PIPS 离子减薄仪的工作原理是：利用氩气，通过专利潘宁规式离子枪产生离子源，以轰击样品表面，从而对样品进行离子减薄操作。并且通过双束调制系统，可进行单、双离子枪工作的操作，同时还可控制对样品表面进行单、双面减薄转换。其专利的DuoPost 样品台设计及小角度的减薄速度，屏弃了传统的附加冷台装置，大大提高了透射电镜样品制备的工作效率。

 

PIPS 离子减薄仪的主要技术指标包括：

 

离子枪：两只潘宁规式离子枪装载微小磁铁

 

减薄入射角：10o 至 -10o，每只离子枪可独立调节

 

离子枪束能量：1.5keV 至6keV

 

减薄速度：硅，每小时40 微米，5 千伏